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紫外-可見光分光光度計(jì)的的日常維護(hù)
來(lái)源:EWG1990儀器學(xué)習(xí)網(wǎng) | 作者:admin | 發(fā)布時(shí)間: 2022-12-24 | 2047 次瀏覽 | 分享到:
對(duì)使用者來(lái)說(shuō),掌握儀器的基本保養(yǎng)維護(hù)方法是保證儀器工作在*佳狀況的必備條件之,使用者除了做好清潔衛(wèi)生工作外,日常的保養(yǎng)維護(hù)主要包括以下幾點(diǎn)。

一、儀器的日常保養(yǎng)和維護(hù)

對(duì)使用者來(lái)說(shuō),掌握儀器的基本保養(yǎng)維護(hù)方法是保證儀器工作在*佳狀況的必備條件之,使用者除了做好清潔衛(wèi)生工作外,日常的保養(yǎng)維護(hù)主要包括以下幾點(diǎn)。


①如果儀器不經(jīng)常使用,須定期開機(jī),至少每星期開機(jī)2h,以去除潮氣,并及時(shí)更換干燥劑,以保持整機(jī)呈干燥狀態(tài),避免光學(xué)元件、電子元件受潮和機(jī)械部分生銹,保證儀器正常運(yùn)轉(zhuǎn)。儀器連續(xù)使用時(shí)間不宜過長(zhǎng),若需長(zhǎng)時(shí)間使用,*好中間作適當(dāng)?shù)拈g隙。


②光源壽命有限,若發(fā)現(xiàn)光源亮度明顯減弱或不穩(wěn)定,應(yīng)及時(shí)更換新燈,更換后要調(diào)節(jié)燈的位置。按**標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,被測(cè)試氘燈的能量不足新燈的45%,則認(rèn)為被測(cè)試的燈壽命到期。


③紫外-可見分光光度計(jì)的光柵掃描機(jī)構(gòu)狹縫傳動(dòng)機(jī)構(gòu)和光源轉(zhuǎn)換機(jī)構(gòu)都屬機(jī)械運(yùn)動(dòng)部件,須經(jīng)常加一些鐘表油保持其活動(dòng)自如。一些不易觸及的部件可請(qǐng)維修工程師幫助完成。


④儀器的技術(shù)指標(biāo)每半年檢查一次,至少一年檢查一次,若發(fā)現(xiàn)問題不要輕易動(dòng)手,及時(shí)通知制造廠來(lái)維修。不要讓儀器“帶病”工作,以免進(jìn)一步損壞儀器。


⑤建立分析測(cè)試工作、調(diào)機(jī)測(cè)試工作和定期檢定工作的記錄檔案。


⑥儀器不工作時(shí),必須切斷電源,開關(guān)放在關(guān)處,用罩子蓋住儀器,以免積灰。


ニ、儀器常見故障排除

表1介紹了紫外-可見分光光度計(jì)一些常見故障的現(xiàn)象和相應(yīng)的排除方法。使用者在儀器出現(xiàn)表2-17中所列的故障時(shí)可及時(shí)做簡(jiǎn)單的檢查和排除。


表1 紫外-可見分光光度計(jì)常見故障及排除方法

常見故障 排除方法
接通電源后儀器不動(dòng)作、不能自檢、主機(jī)風(fēng)扇不轉(zhuǎn)
  1. 檢查電源線與電源開關(guān)是否正常

  2. 檢查儀器保險(xiǎn)絲

  3. 檢查計(jì)算機(jī)與儀器主機(jī)連線是否正常

自檢時(shí)出現(xiàn)錯(cuò)誤
  1. 重新開機(jī)自檢

  2. 重新安裝軟件后再自檢

  3. 檢查計(jì)算機(jī)與儀器主機(jī)連線是否正常

自檢時(shí)出現(xiàn)氘燈、鎢燈能量低的錯(cuò)誤
  1. 檢查信號(hào)線

  2. 檢查樣品室是否有擋光物

  3. 檢查鎢燈或氘燈是否點(diǎn)亮,若不亮,關(guān)機(jī)后更新燈

自檢時(shí)出現(xiàn)氘燈、鎢燈能量高的錯(cuò)誤
  1. 檢查鎢燈電源電壓是否超過 13V 或氘燈電源電流是否超過350mA

  2. 檢查計(jì)算機(jī)有無(wú)病毒,重裝軟件自檢

  3. 檢查計(jì)算機(jī)與主機(jī)連線

噪聲指標(biāo)異常
  1. 檢查光源和光源電壓

  2. 檢查樣品室是否有擋光,樣品是否渾濁,比色皿是否被玷污

  3. 查看周圍有無(wú)強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾

波長(zhǎng)不準(zhǔn)
  1. 檢查信號(hào)線和電源電壓

  2. 清洗絲桿

  3. 執(zhí)行系統(tǒng)應(yīng)用主菜單的波長(zhǎng)校正

  4. 重新自檢

光度準(zhǔn)確度不準(zhǔn)
  1. 檢查樣品配制是否準(zhǔn)確、吸收池是否被玷污

  2. 檢查波長(zhǎng)是否準(zhǔn)確

  3. 重新進(jìn)行暗電流校正

  4. 光譜帶寬選擇是否合適

  5. 儀器光度噪聲、雜散光及基線平直度的影響

吸光度重復(fù)性差
  1. 檢查樣品是否太稀、是否有光解

  2. 吸收池是否太污

  3. 光譜帶寬太小

  4. 強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾

基線平直度指標(biāo)超差
  1. 基線平直度測(cè)試的儀器條件選擇是否正確

  2. 光源不穩(wěn)

  3. 波長(zhǎng)不準(zhǔn),有平移

  4. 重新作暗電流校正

雜散光大
  1. 光學(xué)元件如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等有損傷,自身的缺陷,被灰塵玷污,使用者不要輕易動(dòng)手,請(qǐng)廠商解決

  2. 樣品室是否漏光

除怪峰
  1. 試樣是否有問題、吸收池是否被玷污

  2. 光學(xué)元件是否被玷污

  3. 狹縫上有無(wú)灰塵

  4. 周圍有無(wú)電磁場(chǎng)干擾